检测样品：晶体

检测项目：内应力检测，性能检测等

检测周期：7-15个工作日(参考周期)

检测标准参考

GB/T 7704-2017无损检测 X射线应力测定方法

JB/T 9495.4-1999光学晶体应力双折射 测量方法

JJF (电子)0014-2018功率半导体器件老化系统校准规范

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